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介紹

標智GM280F分體式涂覆層測厚儀采用了磁性測厚法,它能快速無損傷、精確地進行鐵磁性金屬基體上的非確性(如油漆、電違層等)覆層厚度上的測量。被廣、這地用于制造業、金屬1加工業、化工業、商檢等檢測領域。

特點或功能

LCD直觀顯示測量值、測量狀態

采用高靈敏度探頭,測量準確

具有零點、二點和基本三種校驗方法,可隨時快捷的進行系統誤差修正

具有單次、注裝和偏差三種測量方式

可記錄、存儲査看及刪除測量數據

可對測量中出現的單次可理數據進行田除,也可刷除存貯區內的所有數據

可統計最大値、最小值、平均値、標準偏差和測量次數

蜂鳴器提示功能

公英制轉換功能

低電指示功能

自動關機功能

LCD背光燈功能

測厚儀產品規格" style="line-height: 25.2px; text-indent: 28px; white-space: normal;">

二、操作說明

標準片&基體的認識

標準片:

a.已知厚度的試樣均可作為被準標準片,簡稱標準片。

b.有覆蓋層的標準片:

GM280F分體式涂覆層測厚儀采用已知厚度的、均勻的、并與基體率固結合的覆差層作為標準片。對于本儀器,覆益層應是非磁性的。

基體:

a.對于本儀器標準基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了證實標準片的適用性,可用標準基體與待測試件基體上所測得的讀數進行比較。

b.如果特測試件的基體金屬厚度沒有超過參數表中所規定的l的界厚度,可采用下面兩種方法進行校準:

(1).在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標準片上校準;

(2).用一足夠厚度的,電學或磁學性質相似的金屬襯生標準片或試件,但必須使基體金屬與襯塾金屬之間無間踐。(對西面有覆蓋層的試件,不能采用:討塾法。)

c.如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準,則覆益層的標準片的途層厚度,應與試樣的涂層厚度相同。

三、其它事項

影響測量精度的因素及有關說明

a.基體金屬磁性:

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,,低碳鋼確性的變化可以認為是要徴的),為了選免熱處理及冷加工因表的影響,應使用與被測件基體金屬具有相同性質的標準片對使器進行校準,亦可用待涂覆金屬進行被準。

b.基體金屬厚度

每一種使器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度値見產品規格中的要求。

c.邊場效應

本儀器對試件表面形狀的測量變敏感。因此在靠近被測件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

d.曲率

被測件的曲率:對測量有影響。這種影響總隨著曲率半徑的減少明顯地增大。

e.表面粗粧度

基體金屬和覆差層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統課差和偶然課差,,每次測量時,在不同位置上應增加測量的次數,以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在末除覆的粗糙度相類似的基體金屬體件上取幾個位置校對使器的零點;或用對基體金屬沒有腐性的溶劑溶解除去覆差層后,再校對使器的零點。

f.磁場

周田各種電氣設各所產生的強磁場,會嚴重地干就確性法測厚工作。

g.附著物質

本儀器對那些妨得測頭與覆差層表面緊密接蝕的附著物質織感,因此,必須清除附著物質,以保證使器探頭和被測件表面直接接蝕。

h.探頭壓力

探頭置于被測件上所施加的壓力大小會影響測量的法數,,因此本儀器測頭用彈養保持一個基本恒定的壓力。

i.探頭的放置

探頭的放置方式:對測量有影響。在測量中,應當使探頭與待測試件表面保持垂直。

j.被測件的變形

探頭會使軟覆蓋層被測件變形,著變形過大,將會測出不太可靠的數據。

2.使用儀器日常應當連守的規定:

a.基體金屬特性

標準片的基體金屬的磁性和表面粗粧度,應當與被測件基體金屬的磁性和表面粗鞋度相似。

b.基體金屬厚度

檢査基體金屬厚度是否超過臨昇厚度。

c.邊緣效應

不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。

d.曲率

不應在被測件彎曲表面上測量。

e.讀數次數

通常由f儀器的每次讀數并不完全相同,因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度局部差異,也要求在指定的面積內進行多次測量,表面粗松時更應如此。

f.表面清);言度測量前,應清除表面上的任何附著物質,如生士、油脂及腐性物質等,但不要除去任何覆蓋層物質。

3.關于測量結果的說明:a.根據統計學的觀點,一次法數是不可靠的。因此任何由本使器顯示的測量值都是多次測量的平均值。這多次測量是在幾分之一秒的時間內由測頭和儀器完成的。

b.為使測量更加準確,可用本儀器在待測點多次測量,并用田除功能對粗大誤差進行田除,然后用本儀器的統計功能處理,獲取五個統計量:平均値(AVG)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測量次數(NO)、標準信差值(dFR)。

c.接照國際標準,最終的測量結果可以表達為:

CH=A±2D

其中:CH覆l層厚度

A多次測量的平均值(AVG)

D標準信差(dFR)