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任何分析儀器，在講它的技術指標時，都必須首先講這個指標的測試方法。目前，國際上對紫外可見分光光度計的基線平直度的測試方法，一般是：冷態開機，預熱半小時后，試樣和參比比色皿都為空氣，光譜帶寬SBW= 2nm、吸光度值為O，從長波向短波方向對儀器進行全波長慢速（或中速）掃描。在全波長范圍內，找出峰—峰(P-P)值中最大的一點，作為該儀器的基線平直度。目前，有許多科技工作者不注意這個問題；如，日本某紫外可見分光光度計，給出的儀器波長范圍是190～900nm，給出的基線平直度BF為±O，OO1;但是筆者經測試后發現該儀器的基線平直度只能在200～800nm內才能保證為±O．001。這就意味著該儀器能保證 基線平直度為±O．001的使用波長范圍只能是200～800nm。這種給基線平直度的方法是不對的。它既偏離了基線平直度的定義（每個波長上的噪聲），又會誤導使用者，會使使用者誤認為該儀器在190～900nm都能達到光度噪聲為±O．001。特別值得注意的是，還有的把基線平直度和基線漂移混為一談！如某公司，他們對某紫外可見分光光度計給出了“基線參移為±0. 002  (200--- 950nm，”和“基線漂移為N/A”的技術指標。顯然，這里的“基線漂移”，是指的基線平直度。而該儀器的波長范圍為190一llOOnm，但對波長范圍為190一llOOnm的儀器，只給200一950nm的基線平直度是不符合基線平直度的定義的！尤其，對某儀器給出的。基線漂移為N/A”，這種給法更是莫名其妙。另外，該公司又給出了某紫外可分光光度計儀器的“基線穩定性為O．001/h”，但未給出基線平直度。很顯然，該旬既未搞清穩定性的概念，又把基線平直度和500nm處的光度噪聲混為一談了。

筆者認為，在基線平直度的表示方法和測試方法上產生上述現象的原因，主要有三個：

第一，不懂得基線平直度的重要性，隨便亂寫；

第二，既未搞清基線平直度的物理概念，又未去認真研究，只好人云亦云；

第三，為了商業上的需要。