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產(chǎn)品介紹

GL16光纖端面幾何形狀測量儀器使用非常簡單，能夠測量單芯和多芯接頭的端面幾何形狀，并對其成像。它采用非接觸式白光掃描干涉技術(shù)(SWLI)，能夠提供高準(zhǔn)確度、高重復(fù)性和高可靠性的光纖接頭測試，尤其適合根據(jù)IEC或Telcordia標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的合格/不合格測試。系統(tǒng)既可以通過觸摸屏進(jìn)行本地控制，又可以通過基于瀏覽器的應(yīng)用程序?qū)嵤┻h(yuǎn)程操作，易于集成到生產(chǎn)車間。

所有系統(tǒng)組件完全集成在封閉的外殼中。寬帶寬570 nm LED光源配合邁克爾遜干涉物鏡使用，測量間隔高度變化高達(dá)35 μm的相移。壓電位移臺(tái)相對于接頭移動(dòng)干涉物鏡，并使用高分辨率相機(jī)收集所產(chǎn)生的干涉圖案。然后生成接頭表面的3D高度圖，并利用2.2 μm的橫向分辨率和1.1 nm的高度分辨率計(jì)算光纖幾何形狀參數(shù)。白光干涉法還能夠表征凹陷或突出的光纖，而這一點(diǎn)在使用單色干涉儀時(shí)可能會(huì)被忽略。

附帶的GL16M4 MT型安裝夾具有助于實(shí)現(xiàn)一次8秒測量12芯每行的插芯中max.72根光纖。換出附帶的夾具，GL16還可測量其他光纖類型和接頭類型。請根據(jù)待測接頭類型和光纖數(shù)量在下方選擇合適的安裝組件。

性能特點(diǎn)

l 3D干涉儀，用于測量端面幾何形狀

l 非接觸式閉環(huán)壓電白光掃描干涉技術(shù)(SWLI)

l 完全符合IEC和Telcordia等行業(yè)規(guī)范

l 兼容所有主要的接頭類型(請看下表)

l NIST可追蹤標(biāo)準(zhǔn)，用于放大倍率和偏轉(zhuǎn)位移臺(tái)的校準(zhǔn)

l 集成的觸摸屏上提供完整的掃描信息，測量時(shí)間≤8 s(典型值)

l 基于瀏覽器的應(yīng)用程序，支持遠(yuǎn)程訪問操作

l 導(dǎo)出為.CSV格式的數(shù)據(jù)，SQL數(shù)據(jù)庫或掃描報(bào)告

選型指南

產(chǎn)品結(jié)構(gòu)與細(xì)節(jié)

可選功能與配件

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品尺寸