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　　熱敏電阻在目前的電器中使用較為頻繁，它是通過環(huán)境溫度的變化而產(chǎn)生電阻值的變化，從而改變電路的工作狀態(tài)被廣泛用于溫度及控制系統(tǒng)中。

　　熱敏電阻按其電阻值與溫度變化的關(guān)系可分為正溫度系數(shù)和負(fù)溫度系數(shù)兩種。所謂正溫度系數(shù)，是指熱敏電阻的電阻值隨環(huán)境溫度的上升而下降。

　　熱敏電阻的標(biāo)稱電阻值是指環(huán)境在25℃時(shí)的電阻值。因此在測量熱敏電阻的電阻值時(shí)需要注意環(huán)境溫度對其電阻值的影響。當(dāng)環(huán)境溫度在25℃時(shí)測出的熱敏電阻的電阻值即為其標(biāo)稱電阻值，若環(huán)境溫度不為25℃。測得的電阻值與熱敏電阻所標(biāo)稱電阻值不相符是正常現(xiàn)象。

　　如果需要檢測判斷熱敏電阻是正溫度系數(shù)還是負(fù)溫度系數(shù)可在檢測熱敏電阻時(shí)在熱敏電阻的周圍加溫，如用電烙鐵靠近熱敏電阻。此時(shí)若測得的電阻值增大即為正溫度系數(shù)熱敏電阻。反之，則為負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻。

　　1、正溫度系數(shù)熱敏電阻(PTC)的檢測。

　　檢測時(shí)，用萬用表R×1擋，具體可分兩步操作：A常溫檢測(室內(nèi)溫度接近25℃);將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測出其實(shí)際阻值，并與標(biāo)稱阻值相對比，二者相差在±2Ω內(nèi)即為正常。實(shí)際阻值若與標(biāo)稱阻值相差過大，則說明其性能不良或已損壞。B加溫檢測;在常溫測試正常的基礎(chǔ)上，即可進(jìn)行第二步測試—加溫檢測，將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對其加熱，同時(shí)用萬用表監(jiān)測其電阻值是否隨溫度的升高而增大，如是，說明熱敏電阻正常，若阻值無變化，說明其性能變劣，不能繼續(xù)使用。注意不要使熱源與PTC熱敏電阻靠得過近或直接接觸熱敏電阻，以防止將其燙壞。

　　2、負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻(NTC)的檢測。

　　(1)測量標(biāo)稱電阻值Rt用萬用表測量NTC熱敏電阻的方法與測量普通固定電阻的方法相同，即根據(jù)NTC熱敏電阻的標(biāo)稱阻值選擇合適的電阻擋可直接測出Rt的實(shí)際值。但因NTC熱敏電阻對溫度很敏感，故測試時(shí)應(yīng)注意以下幾點(diǎn)：ARt是生產(chǎn)廠家在環(huán)境溫度為25℃時(shí)所測得的，所以用萬用表測量Rt時(shí)，亦應(yīng)在環(huán)境溫度接近25℃時(shí)進(jìn)行，以保證測試的可信度。B測量功率不得超過規(guī)定值，以免電流熱效應(yīng)引起測量誤差。C注意正確操作。測試時(shí)，不要用手捏住熱敏電阻體，以防止人體溫度對測試產(chǎn)生影響。

   (2)估測溫度系數(shù)αt先在室溫t1下測得電阻值Rt1，再用電烙鐵作熱源，靠近熱敏電阻Rt，測出電阻值RT2，同時(shí)用溫度計(jì)測出此時(shí)熱敏電阻RT表面的平均溫度t2再進(jìn)行計(jì)算。

　　3、壓敏電阻的檢測。

　　用萬用表的R×1k擋測量壓敏電阻兩引腳之間的正、反向絕緣電阻，均為無窮大，否則，說明漏電流大。若所測電阻很小，說明壓敏電阻已損壞，不能使用。

　　4、光敏電阻的檢測。

　　A用一黑紙片將光敏電阻的透光窗口遮住，此時(shí)萬用表的指針基本保持不動(dòng)，阻值接近無窮大。此值越大說明光敏電阻性能越好。若此值很小或接近為零，說明光敏電阻已燒穿損壞，不能再繼續(xù)使用。B將一光源對準(zhǔn)光敏電阻的透光窗口，此時(shí)萬用表的指針應(yīng)有較大幅度的擺動(dòng)，阻值明顯減小。此值越小說明光敏電阻性能越好。若此值很大甚至無窮大，表明光敏電阻內(nèi)部開路損壞，也不能再繼續(xù)使用。C將光敏電阻透光窗口對準(zhǔn)入射光線，用小黑紙片在光敏電阻的遮光窗上部晃動(dòng)，使其間斷受光，此時(shí)萬用表指針應(yīng)隨黑紙片的晃動(dòng)而左右擺動(dòng)。如果萬用表指針始終停在某一位置不隨紙片晃動(dòng)而擺動(dòng)，說明光敏電阻的光敏材料已經(jīng)損壞。