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    通過對顆粒數量和每個顆粒所包含的像素數量的統計，計算出每個顆粒的等圓面積和等球體積；

    從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長徑比等；

    再對所有的顆粒進行統計，從而得到粒度分布等信息。

    顯微顆粒圖像分析儀適用領域:

    1、研磨材料：金剛石、碳化硅、碳化硼、白剛玉、氧化鈰等。

    2、電池材料：球形石墨、鈷酸鋰等。

    3、用于驗證其他粒度測試的手段和方法。

    使用顆粒圖像分析時應注意的事項:

    ⒈取放顆粒圖像分析時動作一定要輕，切忌震動和暴力，否則會造成光軸偏斜而影響觀察，而且光學玻璃也容易損壞。

    ⒉由于物鏡的螺絲口容易損傷，安裝物鏡時要特別小心；

    即先向左方倒轉一小段，凹凸雙方吻合后再向右方旋轉，不要轉的太緊，輕輕捻到頭，再稍緊即可。

    ⒊鏡檢標本應嚴格按照操作程序進行，觀察時要從低倍鏡開始，看清標本后再轉用高倍鏡、油鏡。

    ⒋使用油鏡時一定要在蓋玻片上滴油后才能使用。

    油鏡使用完后，應立即將鏡頭、蓋玻片上的油擦干凈，否則干后不易擦去，以致損傷鏡頭和標本。

    但應注意二甲苯用量不可過多，否則，物鏡中的樹膠溶解，透鏡歪斜甚至脫落，蓋玻片移動甚至連同標本一起融掉。

    ⒌顆粒圖像分析使用時不可用手摸光學玻璃部分，如需擦拭應嚴格按照光學部件擦拭辦法。

    ⒍顆粒圖像分析使用的蓋玻片和載玻片不能過厚或過薄。

    標準的蓋玻片為0.17±0.02毫米，載玻片為1.1±0.04毫米。過厚或過薄將會影響顯微鏡成像及觀察。