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　　在規定探傷靈敏度下，從探傷面至能沒出缺陷的小距離。
　　一、水平線性
　　1）測準零點；
　　2）聲程標度設為Y或S；總聲程范圍設為125mm（即每格聲程設為12.5mm）；
　　3）使25mm厚試塊的一至五次回波依次出現在第二、四、六、八和十格，保持探頭不動，調整增益、進波門位，使進波門內回波高為50%，依次讀出一至五次回波聲程值（Y或S）。
　　二、分辨力測試
　　1）用戶在CSK-IA試塊上移動直探頭，當85mm和91mm兩處的回波波峰等高且調至50%，記下增益值A。
　　2）穩住探頭，將85mm和91mm兩處的回波波谷調至50%，記下增益值B。
　　3）分辨力=A-B
　　三、垂直線性
　　1）在CS-1-5試塊上移動直探頭，使200mm深F2平底孔處的回波高為100%。
　　2）增益步長調至2dB，增益每次比上次減2dB。
　　3）每減一次增益記下當前波幅值%。
　　四、動態范圍
　　1）在CS-1-5試塊上移動直探頭，使200mm深F2平底孔處的回波高為100%。
　　記下增益值A。
　　2）使200mm深F2平底孔處的回波高調對剛剛能看到波幅，
　　記下增益值B。
　　3）動態范圍=A-B。
　　五、靈敏度余量測試
　　1）在CS-1-5試塊上移動直探頭，使200mm深F2平底孔處的回波高為50%。
　　記下增益值A。
　　2）除去探頭，增加增益，使噪聲電平達10%，記下增益B。
　　3）靈敏度余量=A-B。

標簽:                                    超聲波探傷儀