在過去的幾年里，工業(yè)自動化測試已經(jīng)達(dá)到了一個(gè)轉(zhuǎn)折點(diǎn)，現(xiàn)在正在向PXI快速的轉(zhuǎn)變。專門為自動化測試進(jìn)行優(yōu)化的PXI提供了一種比機(jī)架式儀器更快、更小、更高性價(jià)比的解決方案。
在30多年的時(shí)間里，科技界已經(jīng)在各種實(shí)踐中見證了摩爾定律。
晶體管密度每18個(gè)月就增長一倍，很大程度上地提高了電子設(shè)備的性能。這不僅僅在最近的Intel i7處理器上可以體現(xiàn)，在很多不斷“減小”的技術(shù)上也可以看到，比如64GB 的固態(tài)硬盤現(xiàn)在已經(jīng)可以做到一張郵票的大小。這些技術(shù)上的進(jìn)步帶來了成本的大幅降低。比如以前價(jià)值上百美元的LCD顯示屏現(xiàn)在已經(jīng)可以整合到廉價(jià)的賀卡中。因?yàn)橛辛烁臁⒏ ⒏土脑O(shè)備之后，整個(gè)工業(yè)界也見證了一代新興產(chǎn)品的爆發(fā)。這些產(chǎn)品往往集成了很多工具，比如GPS定位系統(tǒng)、數(shù)碼相機(jī)、手機(jī)等。另外，這些工具往往都具有軟件定義功能，用戶可以下載應(yīng)用軟件使他們的設(shè)備更適應(yīng)他們的個(gè)性化需求。
技術(shù)創(chuàng)新不斷涌現(xiàn)的同時(shí),對每項(xiàng)突破性技術(shù)進(jìn)行檢驗(yàn)也愈加成為一種挑戰(zhàn)。比如說，將無線局域網(wǎng)技術(shù)加入下一代產(chǎn)品就比原來的產(chǎn)品增加了50項(xiàng)新的相關(guān)測試。幸運(yùn)的是，摩爾定律對于下一代的測試平臺和模塊化測試儀器一樣適用。伴隨著軟件定義的解決方案的發(fā)展，這些測試系統(tǒng)性能的提高完全可以跟得上待測設(shè)備的發(fā)展步伐。
從機(jī)架式測試系統(tǒng)到PXI（面向儀器系統(tǒng)的PCI擴(kuò)展）
幾十年來，通過使用與工程實(shí)驗(yàn)中同樣的傳統(tǒng)臺式儀器，在機(jī)架上一層層地搭建，工程師們已經(jīng)設(shè)計(jì)了一些自動測試系統(tǒng)。機(jī)架系統(tǒng)通過一個(gè)儀器控制接口連接到電腦上，電腦上的程序保證系統(tǒng)的自動運(yùn)行。盡管這些機(jī)架式系統(tǒng)能夠完成一定的功能，但它們并沒有按照儀器的設(shè)計(jì)者所構(gòu)想的那樣被使用。
傳統(tǒng)的臺式儀器是為了實(shí)驗(yàn)臺而設(shè)計(jì)的，當(dāng)工程師或技術(shù)人員想要手動測試或者檢測一個(gè)儀器的故障時(shí)會使用。在機(jī)架式系統(tǒng)中，儀器的屏幕、旋鈕以及按鈕常常會變?yōu)橐环N對空間和資金的浪費(fèi)。進(jìn)一步來說，這些儀器并沒有像那些自動儀器一樣為了測量速度或者數(shù)據(jù)吞吐量而特別設(shè)計(jì)。在一個(gè)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)平臺上，十秒鐘的測量時(shí)間是可以忽略不計(jì)的，但當(dāng)該測量方法被用于一個(gè)生產(chǎn)線上的上千臺設(shè)備的測量時(shí)，這可能就意味著巨額的經(jīng)濟(jì)損失。
相比傳統(tǒng)機(jī)架式的臺式儀器，使用PXI， 您可以得到一個(gè)外形更小巧、性價(jià)比更高、更適合您需求的解決方案。
– Jessy Cavazos, Frost & Sullivan
圖1. 不同于傳統(tǒng)的機(jī)架式儀器，工程師可以通過升級控制器，在PXI系統(tǒng)整個(gè)生命周期內(nèi)不斷提高其性能。
在過去的幾年里，工業(yè)自動化測試已經(jīng)達(dá)到了一個(gè)轉(zhuǎn)折點(diǎn)，現(xiàn)在正在向PXI快速的轉(zhuǎn)變。專門為自動化測試進(jìn)行優(yōu)化的PXI提供了一種比機(jī)架式儀器更快、更小、更高性價(jià)比的解決方案。Harris RF Communications公司，一家軍用多頻帶戰(zhàn)術(shù)無線電設(shè)備供應(yīng)商，最近收到很多訂單，預(yù)訂其Falcon系列高性能無線電設(shè)備。這家公司就需要一種更先進(jìn)的測試方法，從而可以同時(shí)測試更多的無線電設(shè)備。Harris選擇了NI TestStand軟件和PXI硬件作為它下一代測試系統(tǒng)的軟硬件開發(fā)平臺。使用NI平臺，Harris不但可以增加被測無線電設(shè)備的數(shù)目，而且將每一臺無線電設(shè)備的測試成本減少了74%。
NI最近的全球測試經(jīng)理調(diào)查證實(shí)了這種轉(zhuǎn)折趨勢。在調(diào)查中，70%以上的測試經(jīng)理表明他們將使用PXI作為他們下一代自動測試系統(tǒng)中至少一種的核心技術(shù)。與之形成鮮明的對比的是，只有30%的測試經(jīng)理選擇繼續(xù)在他們的自動測試系統(tǒng)里使用機(jī)架式測試儀器。
“使用新的基于NI PXI的技術(shù)平臺，我們在保證測量和性能完整性的同時(shí)，將成本縮減到原來的1/3，半導(dǎo)體測試的吞吐量提高至原來的10倍。”
– Ray Morgan, ON Semiconductor
傳統(tǒng)臺式儀器的供應(yīng)商們同樣也在PXI上做了很大的投資。比如說，在2010年9月，Agilent Technologies公司宣布了它對PXI平臺的支持，并推出了40多臺PXI模塊。Agilent與60多個(gè)供應(yīng)商加入了PXI 系統(tǒng)聯(lián)盟。這個(gè)聯(lián)盟作為一個(gè)推動和維護(hù)PXI標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟，保證了投資處于公開、多供應(yīng)商（公平競爭）的環(huán)境下。
圖 2. 新NI PXIe5665提供了業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的RF性能，并且與同樣的機(jī)架式解決方案相比，成本縮減四成，體積減小了九成
