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磁性測厚法是利用電度原理測定磁性基體上元磁性涂層厚度的方法 。 該法適用于磁性基體上的非産性涂層或化學保護層的厚度測量。

該法在測量前應在標樣上對儀器進行系統調節,以確保其測量精度 。 也可在無涂層基體上送行調節,此時應對標樣和無涂層基體進行置零比較,其厚度差稱為修正值,供需雙方統一試樣、統一方法,從而確定修正值 。 采用磁性法測定法層厚度時,按下述一些慣例進行。

基準面為1cm2時，最小局部厚度的測量見下表：

注：1、曲面探頭與涂層表面的接觸為1點，圖中用“×”表示；

        2、扁平探頭與涂層表面的接觸為1面，圖中用“○”表示，扁平探頭的面積應小于φ 3mm的圓面積。

基準面為1dm2時，無論采用什么型號的儀器以及何種探頭測量，均按圖所示10點法，在該基準面上做10次測量，取其平均值。

影響測量值的因素：

1、涂層本身某些因素影響，如厚度、電導率和表面粗糙度；

2、基體金屬本身某些因素影響，如厚度、磁性、曲率、表面粗糙度、機械加工方向和剩磁等；

3、外來因素的影響，如周圍的磁場和外來附著物等；

4、測量技巧的影響，如探頭壓力，探頭取向和邊緣效應等。

上述各因素的影響應按GB 4956的規定予以排除和校正。